太陽電池|特性評価における、不良解析,分析技術,太陽電池,薄膜Si,寿命などの事例,課題,問題,市場,動向など、セミナーでお届け致します。

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環境・新エネルギー セミナー太陽電池特性評価 セミナー2010年5月 > 太陽電池の特性評価、不良解析分析技術
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太陽電池の特性評価、不良解析、分析技術
太陽電池 最新用法_01   太陽電池 最新用法_02
 
太陽電池の特性評価、不良解析、分析技術
歩留向上り向上、長期信頼性の確保、寿命予測と対策、、、
確立が重要となっている特性評価、解析、分析技術の最新動向
■講演会の概要
日時: 2010年5月28日(金) 10:30〜16:40
会場: 東京・大田区蒲田 大田区産業プラザ(PiO) 6F C会議室
≪会場地図はこちら≫
※急ぎのご連絡は(株)メガセミナー・サービス(TEL06-6363-3372)まで!!
受講料:
(税込)
(税込) 52,500円
 ⇒E-mail案内登録会員 49,800円(ネットからお申し込みの方、全員)
  
※資料・昼食付
上記価格より:
<2名で参加の場合1名につき7,350円割引
<3名で参加の場合1名につき10,500円割引>(同一法人に限ります)
講師: 第1部 高効率薄膜シリコン太陽電池の開発動向と
    競争力を維持していく為の技術課題

≪10:30〜11:30>>

(株)カネカ シニアフェロー 工学博士 太和田 善久 氏

【活動・略歴】
 大阪大学ナノサイエンスデザイン教育研究センター特任教授
 1980年から2年間阪大基礎工学部電気工学教室に在籍、薄膜Si太陽電池のスタン
 ダーとなった
 a-SiC/a-Siへテロ接合薄膜Si太陽電池を発明
 1984年 上記薄膜Siを用いたフレキシブルーソーラーを事業化
 1999年電力用薄膜Si太陽電池事業化
【専門】薄膜Si太陽電池、光半導体

第2部 太陽電池セルの故障解析技術
≪11:40〜12:40>>

(株)アイテス 品質技術部 営業専任部長 竹内 光一 氏

第3部 太陽電池の加速劣化試験技術(仮)
≪13:20〜14:20>>

(独)産業技術総合研究所 太陽光発電研究センター 
評価・システムチーム 主任研究員  博士(工学) 土井 卓也 氏

第4部 太陽電池セル・モジュール構成部材の評価・分析技術(仮)
≪14:30〜15:30>>

(株)住化分析センター 電子事業部 古田 倫明 氏

第5部 太陽電池の長寿命化・長期信頼性確保に向けて
    モジュール信頼性評価手法と信頼性の現状

≪15:40〜16:40>>

岐阜大学 工学部 (未来型太陽光発電システム研究センター)
特別協力研究員 阪本 貞夫 氏

【専門】信頼性工学
【活動】現在、産総研 太陽光発電研究センターが主催する「高信頼性太陽電池
    モジュール開発・評価コンソーシアム」(略称モジュールコンソ)の
    技術諮問委員

主催: サイエンス&テクノロジー株式会社
■講演会のプログラム内容
第1部  高効率薄膜シリコン太陽電池の開発動向と
    競争力を維持していく為の技術課題
<趣旨>
 薄膜Si太陽電池はこれまで日本が中心となって、a-SiC/a-Siへテロ接合太陽電池、薄膜Siの低温形成薄膜技術、アモルファスSiと薄膜Siのタンデム型太陽電池を開発し、8%、10%、12%とモジュール効率を改善し、世界の技術をリードしてきた。
 この間、ドイツのフィードインタリフで市場が急成長する中で、ターンキー設備が登場し、知識や技術がなくてもそこそこの性能の薄膜Si太陽電池が製造できるようになってきた。
 半導体やFPDのように近いうちに日本の薄膜Si太陽電池技術もキャッチアップされると危惧する見方もある。太陽電池は半導体やFPDと異なり、Grid Parity実現のための、変換効率とコストダウンのための継続的な技術開発が要求される。現状は補助政策に支えられて市場は大きく成長しているが、発電コストは家庭用の電力料金より高く、さらなるコストダウン、長寿命化が求められている。
 本講演では、これらの技術開発の状況と今後必要となる技術課題、研究開発の方向について概説する。


1.太陽光発電技術開発の歴史と今
  Si太陽電池、薄膜Si太陽電池の発明から今日までの開発の歴史を概説する

2.太陽光発電の再生可能エネルギーとしての期待と効果
  太陽光が育む地球のエネルギーが魅力的な再生可能エネルギーであることを示す。

3.薄膜Si太陽電池の登場、a-SiC/a-Siヘテロ接合太陽電池の発明で電力用にも期待
  RCAで発明されたa-Si太陽電池がa-SiC/a-Si太陽電池の発明で
  8%の変換効率を達成し、実用域に

4.民生用薄膜Si太陽電池で生産技術の基礎確立
  1980年代初頭に電卓用として大量生産されはじめ、薄膜Siの生産技術の基礎ができる。

5.日本で住宅用太陽電池に補助金がつき、結晶系を主に本格的太陽電池の時代へ
  1990年代屋根発電としての制度が整備され、補助金が付いたことから住宅用結晶Si太陽電池が実用化

6.薄膜Si太陽電池でカネカが世界の先陣をきって1999年市場参入
  信頼性と効率の問題をクリアして、カネカが世界に先がけて電力用薄膜Si太陽電池を製品化。

7.ドイツのアーヘン市で始まったFITは
  国策として実施されたことから、欧州の市場が大きく拡大

  1994年のアーヘンモデルが独政府のフィードインタリフ(FIT)として採用され急速に太陽光発電が普及。

8.当初から懸念されていた結晶系太陽電池の
  原料Si問題が顕在化し、薄膜Si太陽電池が注目される

  2003年後半からかねてから懸念されていた原料Si問題が顕在化、薄膜Si太陽電池が注目される普及。

9.ドイツ市場の拡大は薄膜Si以外の種々の太陽電池の実用化を誘発
  日本では毒性から中断したCdTe太陽電池が米国で再登場、
CIGS、色素増感太陽電池、有機太陽電池が登場

10.米国、日本での普及策の見直し
   これまで熱心でなかった米国もオバマ大統領の登場で、再生可能エネルギー導入の為のスマートグリッド整備計画推進、日本でも打ち切られていた住宅用太陽 電池の復活、余剰電力買取価格を48円/Kwに値上げして普及を後押し、鳩山政権は全量買取を検討する等、積極策に転換。

11.今後の太陽電池の市場と技術開発の動向
  Co2削減の本格着手により太陽光発電は世界的ニーズとなり、半導体、FPDに次ぐ20兆円以上の市場となることが期待される。そのためにはGridParityを実現するコスト課題がますます重要になってきた。

12.日本が目指すべき太陽電池技術開発の方向
   太陽電池も半導体、FPD同様にRD投資を回収する前に、台湾、韓国、中国に技術移転が進むと危惧されている。太陽電池は20年以上の信頼性が必要な部 品であり、製品寿命が短い情報家電とことなる面が 日本の強みとなる。変換効率と、長寿命化が日本の目指す方向である。

  □質疑応答・名刺交換□


第2部 太陽電池セルの故障解析技術
<趣旨>
 太陽電池の電気的特性と物理現象との関係について説明し、発電効率低下の原因となる、各種不良の解析方法とその事例を紹介します。結晶Si太陽電池の理論限界28%に対し、研究段階では24%程度、量産規模では18-20%の変換効率が報告されており、製造工程に起因する不具合で効率低下を起こしている例がかなりあります。
 本講演では不具合を起こしている箇所をピンポイントで特定する手法と分析方法について説明します。


1.太陽電池の原理とpn接合
 1.1 光による起電力
 1.2 Siの発光現象

2.故障解析とは
 2.1 太陽電池セルの不具合
 2.2 故障解析の手順
 2.3 LSIと太陽電池の故障解析

3.発光現象を用いた評価方法と装置
 3.1 EL発光
 3.2 リーク発光
 3.3 R-OBIRCH法とSEI法

4.部位特定から分析への流れ
 4.1 試料加工
 4.2 観察手法

5.故障解析の事例
 5.1 Si単結晶太陽電池の解析事例
 5.2 a-Si薄膜太陽電池の解析事例
 5.3 その他の太陽電池の解析事例

  □質疑応答・名刺交換□


第3部 太陽電池の加速劣化試験技術(仮)

※作成中。

  □質疑応答・名刺交換□


第4部 太陽電池セル・モジュール構成部材の評価・分析技術(仮)

※作成中。

  □質疑応答・名刺交換□


第5部 太陽電池の長寿命化・長期信頼性確保に向けて
    モジュール信頼性評価手法と信頼性の現状
<趣旨>
 太陽電池に今一番求められているのは発電コストを下げることである。太陽電池の変換効率や製造法の改良によって発電コストを下げることは従来から熱心に取り組まれている。もうひとつ発電コストに影響するのはモジュールが稼働できる時間、すなわち寿命である。モジュールの寿命は容易に改良できる余地がまだまだあるのではないかと期待されている。問題は変換効率や製造コストのように寿命を簡単に評価する方法がないことである。そもそも現在市場に出ているモジュールの寿命はどのぐらいなのか?
 この講座ではまず寿命評価法の現状について解説する。また10年間稼働した約2000枚の結晶系シリコン太陽電池モジュールを対象に「どの程度の寿命をもつのか、どのように劣化していくのか」を調査した結果を紹介する。さらに実際に新しい部材を導入するとき必要な試験法について簡単に触れる。


1.太陽電池モジュールの寿命評価の現状
 1.1 寿命、故障、劣化
 1.2 定量的加速劣化試験
 1.3 認証試験で使われる加速劣化試験
 1.4 保障期間について

2.市場モジュールの調査・解析
 2.1 10年間の電流電圧特性の変化
 2.2 特性変化量の統計的解析
 2.3 初期劣化について
 2.4 劣化速度の分布

3.劣化モードの抽出
 3.1 相関解析
 3.2 FFモード
 3.3 I・V モード
 3.4 剥離 モード

4.劣化メカニズムの解析
 4.1 赤外像によるFF モード解析
 4.2 断面の直接観察
 4.3 剥離面の分析
 4.4 接着強度評価法

5.信頼性の現状についてのまとめ

6.比較試験と定量的寿命評価試験

  □質疑応答・名刺交換□

 
 
 
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